設(shè)備：霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)HL5500PC

廠商：nanometrics

用途：利用霍爾效應(yīng)可以測(cè)量半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電特性，從而獲得載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)、導(dǎo)電類(lèi)型等重要參數(shù)。    

技術(shù)指標(biāo)：

l  可測(cè)試室溫和77K下材料的載流子密度、薄層電導(dǎo)率、載流子遷移率等參數(shù)

l  可測(cè)試高達(dá)100G歐姆的材料

• 上一篇：曲率半徑測(cè)試
• 下一篇：形貌分析